巴西一项研究显示,基于荧光原理的龋病检测方法中,激光龋病探测仪(LF)、激光龋病探测笔(LFpen)用于检测牙齿光滑面原位脱矿和再矿化较荧光相机(FC)更有效,可用于龋病的早期诊断。该论文发表于《龋病研究》(CariesRes2014;48(6):507)。
该研究对象为10名志愿者,戴有上腭树脂基托,每个基托包含6个釉质块(这6个釉质块先暴露于20%的蔗糖溶液中进行14天的脱矿处理,之后其中的3个釉质块用含氟牙膏进行7天的再矿化处理)。采用LF、LFpen及FC对上述60个釉质块在基线、脱矿及其中30个脱矿再矿化后进行评估,检测指标为表面显微硬度(SMH)和截面的显微硬度,并计算综合表面硬度损失(ΔKHN)。
结果为,LF、LFpen在基线、脱矿及再矿化3个阶段的检测中,SMH检测值具有显著差异,FC在脱矿和再矿化阶段的检测值无统计学差异;在3个阶段的检测中,釉质块的荧光值(均数±标准差)分别为:5.4±1.0,9.2±2.2,7.0±1.5(LF组);10.5±2.0,15.0±3.2,12.5±2.9(LFpen组);1.0±0.0,1.0±0.1,1.0±0.1(FC组)。SMH及ΔKHN在脱矿与再矿化阶段具有显著差异。再矿化阶段,LF和LFpen的荧光值与SMH呈显著负相关。
(实习编辑:徐润兰)