定位下颌阻生智齿可使用CBCT

　　概述

　　根据下颌阻生第三磨牙（impactedmandibularthirdmolar,IMTM）的方向可分为正位阻生、近中倾斜阻生、水平阻生、倒置阻生及颊舌向阻生；根据其阻生深度可分为高位阻生、中位阻生或低位阻生；与下颌管的关系可为不接触或密切接触；邻牙可发生外吸收。

　　下颌阻生第三磨牙常须拔除，术中下牙槽神经损伤率为0.4%～9.8%。从局部解剖因素看，IMTM邻近下颌神经管甚至突破下颌神经管壁是损伤下牙槽神经的解剖学基础。

　　根尖片及曲面体层片是IMTM拔除术前常用X线检查手段，可观察阻生牙的方向、深度及其与下颌第二磨牙和下颌管的关系。但上述片位均为二维图像，往往因为组织重叠而难以准确反映这些信息，特别是阻生牙颊舌向位置及与邻牙或下颌神经管的关系。

　　口腔颌面锥形束CT表现

　　锥形束CT（CBCT）可精细显示IMTM与下颌管壁的关系，包括颊舌向位置、有无骨间隔（图1~3）等，以预测术中损伤下齿槽神经的可能性；同时可反映下颌第二磨牙是否存在外吸收，这对手术设计及减轻手术并发症具有重要意义。

　　研究结果表明，与下颌管壁不完整相关的曲面体层片影像学征象中，以下颌管壁骨白线中断和牙周影像改变的统计学意义最明显。甘米尼亚（Ghaeminia）等比较53枚IMTM的曲面体层及CBCT图像，以术中下齿槽神经暴露情况作为金标准，指出CBCT在预测下齿槽神经暴露方面的敏感度与特异度比曲面体层片无显著性优势。但CBCT提供的冠状位图像反映了牙根与下颌管的颊舌向关系，这有利于术中采取适当措施以减少损伤下齿槽神经的风险。

　　其他影像学表现

　　根尖片及曲面体层片是IMTM拔除术前常用的普通X线检查手段，可观察阻生牙的方向、深度以及与下颌第二磨牙和下颌神经管的关系。

　　根尖片由于胶片安放困难，有时难以观察到近中阻生牙根尖区，甚至难以完成投照；此外，由于投照角度的影响，对解剖细节的观察失真亦较大。

　　曲面体层片可同时反映双侧阻生智牙及邻近牙列与颌骨的解剖结构，可用于复杂病例的常规检查。

　　普通X线片上阻生牙与下颌神经管的关系可分为无接触、点状接触或部分重叠。对于存在部分重叠的患牙须进一步进行CBCT检查。

　　普通X片判断IMTM与下颌管位置关系较为密切的X线片征象主要有以下3类：①密度改变：如横过牙根的密度减低带及局部牙根密度减低等X线表现特征；②形态改变：如牙根弯曲、下颌管弯曲、下颌管变窄、双根尖影等；③边缘改变：如下颌管上壁骨白线中断及牙根变窄影像等。

（实习编辑：徐润兰）