抗表皮基底膜抗体

抗表皮基底膜抗体概述

抗表皮基底膜抗体测定是诊断类天疱疮的的特异性标志抗体。用间接免疫荧光检查，诊断类天疱疮患者血清中有抗表皮基底膜抗体，主要是IgG。

间接免疫荧光法实验原理：将荧光素标记在相应的抗体上，直接与相应抗原反应。

第一步，用未知未标记的抗体(待检标本)加到已知抗原标本上，在湿盒中37℃保温30min，使抗原抗体充分结合，然后洗涤，除去未结合的抗体。

第二步，加上荧光标记的抗球蛋白抗体或抗IgG、IgM抗体。如果第一步发生了抗原抗体反应，标记的抗球蛋白抗体就会和已结合抗原的抗体进一步结合，从而可鉴定未知抗体。

• 检查部位 全身
• 科室 内科
• 相关疾病 瘢痕性类天疱疮 大疱性类天疱疮 天疱疮
• 相关症状 脓疱 结节 溃疡 瘙痒 囊肿

抗表皮基底膜抗体正常值

• IIF法(间接免疫荧光法)：阴性。

抗表皮基底膜抗体临床意义

• 阳性： 大疱性类天疱疮(阳性率70%)，妊娠疱疮（阳性率20-25%，使用补体固定的间接免疫荧光技术，阳性率可提高到90%），瘢痕性 类天疱疮（阳性率10-30%，多为低滴度）。 注意：抗体滴度与疾病的活动性不相关。获得性大疱性表皮松懈症及大疱性系统性红斑狼疮者也可为阳性。

抗表皮基底膜抗体检查方法

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抗表皮基底膜抗体注意事项

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